2　存储器的关键性能测试与分析　　
    1）　L1、L2的并行指令测试
　　在DSP存储器的访问性能指标测试上，首先需要考虑的是DSP核心的各个寄存器直接访问内部存储器的性能，这是DSP运算速度最重要的指标。由于BF535是改进型的哈佛结构，支持并行指令，而并行指令能够在一个周期内完成多条指令操作，因此该方面需要重点测试。表Ⅰ中测试了在不同的存储器环境下，双乘加运算的同时，进行单RAM16 bit存取数据和双RAM16 bit存取数据的速度指标。测试方法：运行0x1000次并行指令运算测量实际周期数。DSP核心时钟fCCLK为300 MHz，测试样本数目为15。